适用于8-1200 nm的各种应用PALAS设备U-SMPS 2050X/ 2100 X / 2200 XPALAS设备U-SMPS通用扫描电迁移率粒径谱仪Palas@通用扫描电迁移率粒径谱仪(U-SMPS)可提供两种版本。长分类柱(2050X/2100X / 220O型号)可以确定8至1200 nm的粒径分布。该系列已经集成了X射线源作为中和器（参见图1)，代替放射性中和器（例如使用Kr-85〉，优点是在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。PalasRU-SMPS系统包括一个分级器[在ISO15900中定义为电迁移率分级器(DEMC)，也称为微分迁移率分析仪(DMA)]，可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。冷凝颗粒计数器（例如UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC型号可在各种浓度范围内实现很好的单颗粒计数。Palas使用了由Wiedensohler教授〈(IfTLeipzig，德国）开发的演算算法，将测量数据转化为U-SMPS的颗粒分布。U-SMPS使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短30秒之内执行，并且每十进制多达128个尺寸通道。在扫描期间，DEMC分级器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上设置线性或对数显示测量值。随附的评估软件可提供各种数据评估(各种统计和平均值)，以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以连接到计算机或使用各种接口(USB，LAN，WLAN，RS-232/485)连接网络。PalasRU-SMPS支持DMA，CPC和其他制造商的气溶胶静电计。U-SMPS对颗粒物准确的尺寸确定和可靠性能极其重要，尤其是对于校准来说。所有组件都必须通过严格的质量保证测试，并且必须内部组装。