ZK200涂层测厚仪采用磁性和涡流两种测厚原理方法，选择相应的探头，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。配合先进的实时温度补偿技术，实现测量
存储容量500组
采用军工级ABS强塑外壳，小巧、便携、坚实耐用，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰
产品标准
GB/T 4957-1985 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
测量范围：标准探头0-1500um;选配探头0-10000um
示值精度:±(2%H+1)um; H为被测涂层厚度
存储容量:可存储500组（测量时间、测头类型等信息）
通讯接口：USB接口可与计算机连接、通讯
测量模式：单点测量模式、扫描测量模式、差值模式、平均值模式
基体厚度(磁感模式0.5 mm,涡流模式0.3 mm)
整机重量：300g
仪器主机、铁基测头、涂层测厚基体块、标准厚度试片、通讯电缆1根、电池、仪器箱、说明书以及随机资料等